标签: 加速寿命测试

本文深入探讨了电子元器件老化测试与寿命预测在航空航天及汽车电子领域的关键作用。文章聚焦于传感器和微控制器这两类核心器件，解析了如何通过高加速寿命试验、温度循环、湿热测试等环境试验方法，在原型开发阶段有效预测产品寿命、发现潜在缺陷，从而大幅提升最终产品的可靠性与安全性，为高可靠性电子系统的开发提供实用

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